大家對高溫氧化鋁也許有了一定的了解，接下來就給大家介紹一些相關(guān)的知識，它的原晶粒度的測定方法。

　　具體如下：

　　1、紅外光譜結(jié)構(gòu)分析法

　　由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān)，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度。該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍是客觀存在困難。

　　2、X射線衍射法

　　主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的，實(shí)驗(yàn)表明并不存在“款化效應(yīng)”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強(qiáng)度與JCPDS卡片不一致，進(jìn)而影響到α氧化鋁定量分析的準(zhǔn)確性。

　　3、氮吸附小比表面法

　　對于多孔活性物質(zhì)較合適，但由于從高溫下獲得的a氧化鋁粉燒結(jié)體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進(jìn)入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業(yè)應(yīng)用價(jià)值。

　　4、電子顯微鏡法

　　以化學(xué)腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大，分析費(fèi)用高。

　　5、研磨法

　　早年美國鋁業(yè)公司的同行來中國時增提到過這種方法，在特定的容積內(nèi)，以一定的料球比、固定研磨時間（大約為8小時左右），再用粒度分析儀測定粉碎物料的晶粒分布及中位徑D50，并用這種方法來實(shí)現(xiàn)宏觀控制。

　　以上就是有關(guān)高溫氧化鋁原晶粒度測定方法的介紹，大家可以參考一下，今天的內(nèi)容就介紹到這里，想要了解更多產(chǎn)品知識可以繼續(xù)關(guān)注我們。

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